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當前位置：首頁產品中心儀器儀表拉曼顯微鏡

  • SENTERRA II拉曼顯微鏡

    拉曼顯微鏡采用掃描探針式成像技術，能夠克服傳統光學顯微鏡的低分辨率限制，實現納米尺度的成像。這種技術不僅可以提供高清晰度的圖像，而且還可以對樣品進行無損檢測，避免了對樣品的破壞。此外，還可以結合材料的光學性質進行多物理場耦合表征，為科學研究提供更多的信息和數據。

    更新時間：2024-01-24
    產品型號：SENTERRA II
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